Метод дифракции отраженных электронов в материаловедении

в наличии

Цена со скидкой 20% в интернет-магазине: 1191,20 руб.

ISBN: 978-5-94836-385-1
Внешнее покрытие издания: в пер.
Тираж издания: 750
Основное заглавие: Метод дифракции отраженных электронов в материаловедении
Последующие сведения об ответственности: Пер. с англ. С. А. Иванова ; под ред. А. Шварца, М. Кумара, Б. Адамса, Д. Филда
Место издания: Москва
Издатель: Техносфера
Дата издания: 2014
Объем издания (количество страниц): 559
Другие уточнения физических характеристик: цв. ил.
Высота, см.: 25
Заглавие серии: Мир физики и техники
Индекс УДК: 543.07:620.22
Статус записи (Тип информации): В наличии
Ширина, см: 17,5
Толщина, см: 3,2
Вес в граммах: 1170
Индекс ББК: 22.36
Артикул: 2642552

Описание

Книга содержит материалы, полезные как для общего понимания принципа ДОЭ-анализа, истории его создания и развития, так и практическую информацию по исследованию процессов в материалах при сильных пластических деформациях (равноканальное угловое прессование (РКУП), сварка трением с перемешиванием), а также для понимания трехмерного анализа границ раздела методом комбинации послойного травления материала с помощью фокусированного ионного пучка и исследования поверхности каждого слоя методом ДОЭ с последующей трехмерной реконструкцией набора двумерных данных ДОЭ. Перевод на русский язык второго оригинального издания книги "Метод дифракции отраженных электронов в материаловедении" является одной из первых исчерпывающих коллективных монографий в этой области. Книга станет полезным настольным справочником для многих начинающих и практикующих специалистов в области электронной микроскопии, рентгеновского микроанализа и микротекстурного анализа материалов.