ISBN: 978-5-94836-177-2
Внешнее покрытие издания: в пер.
Тираж издания: 3000
Фамилия автора в заголовке: Рид
Инициалы автора (личного имени (имен)): С. Дж. Б.
Код отношений (роль соавтора в издании): 070 Автор
Основное заглавие: Электронно-зондовый микроанализ и растровая электронная микроскопия в геологии
Сведения, относящиеся к заглавию: Пер. с англ.
Первые сведения об ответственности: С. Дж. Б. Рид
Место издания: М.
Издатель: Техносфера
Дата издания: 2008
Объем издания (количество страниц): 232
Другие уточнения физических характеристик: [4] л. цв. ил., рис., граф.
Высота, см.: 25
Заглавие серии: Мир наук о земле
Индекс УДК: 550
Статус записи (Тип информации): В наличии
Ширина, см: 17,4
Толщина, см: 1,5
Вес в граммах: 500
Артикул: 1750677
Аннотация:

В предлагаемой книге описываются рентгеноспектральный микроанализ и растровая электронная микроскопия применительно к решению геологических задач. Рассмотрены основы взаимодействия ускоренного пучка электронов с образцом и оборудование для РСМА и РЭМ, основные принципы формирования изображения в РЭМ, принципы работы рентгеновских спектрометров с энергетической (ЭДС) и волновой дисперсией (ВДС). Подробно изложены процедуры качественного и количественного рентгеноспектрального анализа. Книга предназначена для студентов-геологов и аспирантов, работников заводских лабораторий, а также как дополнительный материал для специалистов, использующих РСМА и РЭМ для решения геологических задач. Чтобы сделать книгу доступной, в ней опущены излишние технические подробности.