Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ в примерах практического применения

под заказ

Цена в интернет-магазине: 499,00 руб.

ISBN: 978-5-94836-200-7
Внешнее покрытие издания: в пер.
Тираж издания: 1500
Основное заглавие: Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ в примерах практического применения
Сведения, относящиеся к заглавию: Учеб. пособие
Первые сведения об ответственности: М. М. Криштал, И. С. Ясников, В. И. Полунин и др.
Место издания: М.
Издатель: Техносфера
Дата издания: 2009
Объем издания (количество страниц): 206
Другие уточнения физических характеристик: ил.
Высота, см.: 22
Определитель УДК: (075.8)
Заглавие серии: Мир физики и техники
Индекс УДК: 531
Статус записи (Тип информации): В наличии
Ширина, см: 15,2
Толщина, см: 1,5
Вес в граммах: 392
Гриф: Доп. УМО
Артикул: 1892898

Описание

Книга посвящена вопросам практического применения сканирующей (растровой) электронной микроскопии с рентгеноспектральным микроанализом. В первой части описаны основные принципы и устройства, используемые в сканирующей электронной микроскопии. При этом изложен минимум информации, необходимый для понимания возможностей этого метода, правильной постановки задач для сканирующей электронной микроскопии и интерпретации результатов исследований. Во второй части подробно разобрано и систематизировано более 50 примеров практического применения сканирующей электронной микроскопии с рентгеноспектральным микроанализом. Большинство примеров относится к деятельности заводской лаборатории и иллюстрирует решения практических задач. Также приведены примеры решения исследовательских задач. Все примеры подобраны таким образом, чтобы дать наиболее полное представление о типах задач, решаемых с помощью сканирующей электронной микроскопии, о подходах к их решению и общей методологии. В качестве учебного пособия книга предназначена для инженеров, аспирантов и студентов, повышающих свою квалификацию или обучающихся по специальностям, связанным с машиностроением и материаловедением. Ее можно использовать как вводный курс для операторов или непосредственных пользователей сканирующих электронных микроскопов. Книга также будет полезна специалистам, которым приходится ставить задачи, требующие применения сканирующей электронной микроскопии с рентгеноспектральным микроанализом.