ISBN: 978-5-91559-119-5
Внешнее покрытие издания: в пер.
Тираж издания: 500
Фамилия автора в заголовке: Лич
Инициалы автора (личного имени (имен)): Р.
Основное заглавие: Инженерные основы измерений нанометровой точности (пер. с англ.)
Первые сведения об ответственности: Р. Лич
Место издания: Москва
Издатель: Интеллект
Дата издания: 2012
Объем издания (количество страниц): 400
Высота, см.: 21.5
Сопроводительный материал: в пер.
Индекс УДК: 62
Статус записи (Тип информации): В наличии
Ширина, см: 14.5
Толщина, см: 1.5
Вес в граммах: 550
Индекс ББК: 22.375* 22.343.41 30.10
Возрастная категория: 18+
Артикул: 2408263
Аннотация:

Книга известного специалиста Национальной Физической Лаборатории (NPL, Великобритания) последовательно рассматривает инженерные аспекты достижения нанометровой точности измерений перемещений и параметров рельефа поверхности, контроля параметров макрообъектов с помощью координатно-измерительных машин, различных зондовых, оптических и электронных средств измерений (включая вопросы обеспечения прослеживаемое™ измерений длины с помощью лазерной интерферометрии и калибровочных образцов). Также рассмотрены вопросы прецизионных измерений масс. Для студентов и преподавателей технических университетов, специалистов промышленных предприятий, инженеров-разработчиков и исследователей

Читайте также: