Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий: Методы и применения

под заказ

Цена в интернет-магазине: 1769,00 руб.

ISBN: 978-5-9963-1110-1
Внешнее покрытие издания: в пер.
Тираж издания: 1000
Основное заглавие: Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий: Методы и применения
Сведения, относящиеся к заглавию: Монография
Последующие сведения об ответственности: Под ред. У. Жу, Ж. Л. Уанга; Пер. с англ. С. А. Иванова, К. И. Домкина под ред. Т. П. Каминской
Место издания: М.
Издатель: БИНОМ. Лаборатория знаний
Дата издания: 2016
Объем издания (количество страниц): 582
Другие уточнения физических характеристик: [8] л. цв. ил., ил.
Высота, см.: 24
Индекс УДК: 537.533.35
Статус записи (Тип информации): В наличии
Ширина, см: 17
Толщина, см: 2,8
Вес в граммах: 915
Индекс ББК: 30.3+22.3
Артикул: 2447744

Описание

Монография посвящена рассмотрению методов растровой электронной микроскопии (РЭМ) применительно к нанотехнологиям и включает не только исследование характеристик различных наноматериалов, наноструктур и нанообъектов, но и технологию их изготовления in situ. В книге под редакцией известных ученых собраны статьи и обзоры видных специалистов в областях, относящихся к нанотехнологиям. Рассмотрены различные типы РЭМ, включая просвечивающие микроскопы с высоким разрешением, рентгеновский микроанализ, новейшие методы получения изображения посредством обратно рассеянных электронов, а также методы электрон- o ной криомикроскопии для исследования биообъектов. Использование РЭМ включает изучение наночастиц, нанопроволок, нанотрубок, трехмерных наноструктур, квантовых точек, магнитных наноматериалов, фотонных кристаллов и биологических наноструктур. Книга предназначена не только для широкого круга практических специалистов в сфере нанотехнологий, но может быть использована также студентами вузов и разработчиками новых типов растровых электронных микроскопов.